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测试堆栈:DFT已为3D设备做好准备


当现有的先进2D设计已经突破了测试设计(DFT)工具的极限时,开发者对3D设备的DFT管理还有什么希望呢?谁能负担得起工具的运行时间、芯片上的面积需求、模式计数和测试时间?来自专家的答案是肯定的,有一条可扩展的、负担得起的、全面的3D ic DFT解决方案的途径。条策略……»阅读更多

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