特别报道
筛选静默数据错误
使用有针对性的电气测试和100%的检查可以发现更多的sde，但不是所有的sde。
头条新闻
计量选择随着设备需求的变化而增加
光学和电子束方法得到了扩展，而新技术找到了利基用途。
芯片的内部
ProteanTecs的首席执行官谈到了芯片上监控的增长，深度数据分析和预测性维护的需求，以及弹性的重要性。
博客
Teradyne的Natalian Z. Der解释了为什么以与最终用途紧密匹配的方式测试产品可以提高质量并缩短上市时间新兴技术正在推动系统级测试的采用．
Advantest的Sonny Banwari和Matthias Sauer着眼于为数据驱动的ML测试产品建立一个生态系统用于机器学习的产量优化和测试的工业解决方案．
Synopsys的Ash Patel和Karthik Natarajan解释了为什么在产品生命周期的不同阶段运行相同的结构测试可以发现更多的故障扫描模式可移植性从PSV到ATE到SLT到IST．
赞助白皮书
利用动态性能优化减少模拟回归周转时间
一种替代方法，可自动优化模拟性能和减少周转时间的关键方面。
红外激光成像是快速变化的红外显微镜
红外激光成像正被商业化应用于智能分析设备，新的应用正在出现。
系统级别测试-入门:白皮书
随着半导体几何尺寸的缩小，系统级测试(SLT)变得越来越重要。
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