是什么原因导致扫描测试中的期望值发生变化?
西门子旗下Mentor公司的产品经理贾扬特·德索萨解释了两者之间的区别扫描测试以及扫描诊断，是什么导致扫描测试中的值发生变化，如何使用它来研究设计中失败的实际原因，以及如何更有效地利用测试硬件。
我们可以在扫描诊断中使用“设计”这个词吗?每个制造的芯片都是不同的。每个坏掉的芯片可能都不一样?我们是在诊断芯片的功能缺陷还是制造缺陷?
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