标签:缺陷

声的平衡检查
通过埃德·斯珀林- 12,2023 -评论:0

声音能量快速发现空洞,分层,裂纹,和其他可能的缺陷,可以从外部芯片或包,以及一些芯片内部的缺陷。但声学检验也高度敏感不同的材料不同的极性,从而改变声波的反射。产品营销经理比尔•祖克曼Nordso…»阅读更多

从Cell-Aware Device-Aware测试开始了
通过劳拉·彼得斯- 06年6月,2023 -评论:0

使用device-aware测试替代记忆的早期结果显示扩展的测试覆盖率,但是这仅仅是开始。一旦半导体行业意识到它正在遭受设备失败,即使测试程序故障覆盖率达到了100%,它对解决这个脱节的缺陷表现在设备和常用的故障模…»阅读更多

加大对电动汽车电力电子
通过安妮Meixner- 06年6月,2023 -评论:0

加速电力设备用于电动车(电动汽车)是具有挑战性的芯片制造商充分屏幕ICs,这些车辆。[1]虽然进展自主驾驶引起公众的注意,交通系统的电气化是平静地进步。对于汽车行业来说,这种转变涉及的电子元件。Amo……»阅读更多

数据分析Chiplet时代
通过真嗣日本日置2023年5月- 09年-评论:0

本文基于2022年发表于日本半导体。摩尔定律提供了半导体行业的逐客令了设备进步在过去的五年。芯片制造商成功地不断想办法缩小晶体管,使拟合电路到一个小空间,同时保持降低成本。然而今天,摩尔定律是slowin…»阅读更多

EUV光刻技术:单粒子体积充电过程的结果在EUV暴露环境关注余辉效应
通过技术论文链接4月- 12,2023 -评论:0

一个新的技术论文题为“粒子充电脉冲EUV曝光期间余辉效应”研究人员发表的荷兰阿斯麦公司ISTEQ帐面价值和埃因霍温科技大学。摘要“纳米颗粒充电过程随着时空背景等离子体剖面进行了调查与3 dpic模拟脉冲EUV暴露环境中。发现……»阅读更多

什么数据中心从汽车芯片制造商可以学习
通过安妮Meixner- 11年4月,2023 -评论:2

汽车oem要求半导体供应商实现几乎不可测的目标10每十亿(DPPB)有缺陷的零件。是否这是现实还有待观察,但系统公司正在效仿,为他们的数据中心soc水平的质量。建筑质量水平是更昂贵的,尽管最终可以节省成本而不得不……»阅读更多

筛查沉默的数据错误
通过安妮Meixner2023年1月- 10 -评论:0

工程师们开始理解沉默的原因数据错误(sd)和数据中心故障原因,这两个可以减少通过增加测试覆盖率和提高检验关键层。沉默的数据错误是如此命名是因为如果工程师不找他们,他们不知道它们的存在。与其他类型的错误行为,这些错误也可以c…»阅读更多

主动学习,以减少数据在半导体制造缺陷识别的要求
通过技术论文链接- 10月24日,2022 -评论:0

新技术论文题为“探索半导体缺陷分割的主动学习”研究机构发表的科学技术和研究(A * STAR)在新加坡。“我们识别两个独特的挑战当应用艾尔在半导体XRM扫描:大域和严重class-imbalance转变。为应对这些挑战,我们建议进行对比pretrainin……»阅读更多

为什么沉默数据错误那么难找
通过安妮Meixner10月- 11,2022 -评论:0

云服务提供商有沉默的数据错误的来源追溯到缺陷在cpu -多达1000 ppm——只是偶尔产生错误的结果和在某些micro-architectural条件。这使得他们很难找到。沉默数据错误(sd)是随机缺陷在制造业,生产不是一个设计错误或软件错误。这些缺陷基因……»阅读更多

使用量子DL找到晶圆缺陷
通过技术论文链接- 13,2022 -评论:0

新的研究论文题为“半导体缺陷的检测混合Classical-Quantum深学习”,国立清华大学的研究人员。文摘”人工智能和自动驾驶技术的快速发展,对半导体的需求预计将大幅上升。然而,半导体制造业的大规模扩张和发展……»阅读更多

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