标签:IEEE 1687

测试堆栈:DFT已为3D设备做好准备
通过马丁Keim- 2022年9月8日-评论:0

当现有的先进2D设计已经突破了测试设计(DFT)工具的极限时，开发者对3D设备的DFT管理还有什么希望呢?谁能负担得起工具的运行时间、芯片上的面积需求、模式计数和测试时间?来自专家的答案是肯定的，有一条可扩展的、负担得起的、全面的3D ic DFT解决方案的途径。条策略……»阅读更多

用于大型soc和AI架构的DFT的实用方法，第一部分
通过拉胡尔Singhal- 2022年1月11日-意见:0

为通用应用设计的传统处理器很难满足人工智能(AI)或机器学习(ML)应用的计算需求和功耗预算。几家半导体设计公司现在正在开发专门的AI/ML加速器，这些加速器针对特定的工作负载进行了优化，以便它们以低得多的成本提供更高的处理能力。»阅读更多

数字测试增大或减小
通过布来安梅奥- 2020年12月8日-评论:2

大型数字集成电路正变得越来越难以以时间和成本效益的方式进行测试。特别是AI芯片，由于所需的测试向量量，它具有平铺式架构，这对旧的测试策略造成了压力。在某些情况下，这些芯片太大了，超过了十字线的尺寸，需要将它们缝合在一起。需要新的测试效率……»阅读更多

设备受到模拟内容的威胁?
通过布莱恩•贝利- 2017年2月9日-评论:0

随着连接设备中模拟内容的数量激增，确保模拟部分正常工作已经达到了一个新的紧急水平。模拟电路用于解释物理世界和将数据传输到系统的其他部分，而数字电路是处理数据的最快方式。所以一个传感器在高速行驶的汽车中给出错误的读数或…»阅读更多

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